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高溫環(huán)境XRD即X-raydiffraction,通過對材料進行X射線衍射,分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線是一種波長很短(約為20~0.06nm)的電磁波,能穿透一定厚度的物質(zhì),并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線,稱為特征(或標識)X射線。x射線是一種具有較短波長的高能電磁波,由原子內(nèi)層軌道中電子躍遷或高能電子減速所產(chǎn)生。X射線...
12-28
巖礦分析,顧名思義,就是應(yīng)用各種礦物學原理與方法,通過礦物的光、電、聲、熱、磁、重、硬度、氣味等以及其主要的化學成分特征,對巖石、礦物樣品、包括光(?。┢⑸捌?、碎屑、粉未進行觀察、鑒定以區(qū)別其他礦物類別,以及研究巖石、礦石的主要礦物組成、礦物成生序列,結(jié)構(gòu)、構(gòu)造、巖(礦)石類型的技術(shù)方法?,F(xiàn)代地球物理學是將數(shù)學、物理、計算機與傳統(tǒng)地學緊密結(jié)合的學科;是利用高精度測量儀器探測地球內(nèi)部結(jié)構(gòu)、動力和演化,進行資源勘查與開發(fā)利用、地質(zhì)災害預測和防治、工程勘測、生態(tài)環(huán)境保護以及污染監(jiān)...
12-20
普通掃描電鏡是一種利用電子進行成像的顯微鏡,由英文ScanningElectronMicroscope直譯得名,簡稱為掃描電鏡。由于電子的德布羅意波長遠小于可見光的波長,掃描電鏡具有比光學顯微鏡高得多圖像分辨率,使我們擁有在亞原子尺度上觀察微觀世界的能力。掃描電鏡噴金幾乎可以對所有類型的樣本進行圖像處理,陶瓷、金屬、合金、半導體、聚合物、生物樣品等。然而,某些特定類型的樣品更具有挑戰(zhàn)性,并且需要操作者進行額外的樣品制備,以便借助掃描電鏡噴金收集高質(zhì)量圖片。這些額外的步驟包括在...
11-10
臺式電鏡是一個復雜的系統(tǒng),濃縮了電子光學技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制等技術(shù)。是在加速高壓作用下將電子槍發(fā)射的電子經(jīng)過多級電磁透鏡匯集成細?。ㄖ睆揭话銥?~5nm)的電子束(相應(yīng)束流為10-11~10-12A)。在末級透鏡上方掃描線圈的作用下,使電子束在試樣表面做光柵掃描(行掃+幀掃)。入射電子與試樣相互作用會產(chǎn)生二次電子、背散射電子、X射線等各種信息。臺式電鏡直觀的用戶界面、簡便的觸摸屏控制,以及各項自動調(diào)節(jié)功能,使用戶僅需極少的培訓,就可以得到高質(zhì)量的圖像...
11-2
近年來,我國國民經(jīng)濟的持續(xù)高速發(fā)展刺激了對鋼鐵的需求,同時也拉動了煉焦生產(chǎn)的高速度發(fā)展。焦炭產(chǎn)能的快速擴張導致煉焦煤供應(yīng)緊張,煉焦煤價格大幅度升高,又由于高爐大型化、噴吹煤粉等技術(shù)的應(yīng)用,對焦炭質(zhì)量提出了更高的要求,致使優(yōu)質(zhì)煉焦煤供應(yīng)更加緊張。同時,由于焦炭產(chǎn)能過剩,焦炭價格低迷。焦化行業(yè)面臨著煤炭資源供應(yīng)緊張和經(jīng)濟效益低下的雙重壓力,如何合理利用煤炭資源,提高企業(yè)經(jīng)濟效益,滿足鋼鐵工業(yè)持續(xù)發(fā)展是擺在焦化企業(yè)面前的緊迫任務(wù),也是長期任務(wù)。煤巖分析系統(tǒng)是用于煤田地質(zhì)勘探、煤礦開...
10-23
掃描電子顯微鏡,簡稱為掃描電鏡,英文縮寫為SEM(ScanningElectronMicroscope)。它是用細聚焦的電子束轟擊樣品表面,通過電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等對樣品表面或斷口形貌進行觀察和分析。SEM已廣泛應(yīng)用于材料、冶金、礦物、生物學等領(lǐng)域。SEM掃描電鏡由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。作用:獲得掃描電子束、作為產(chǎn)生物理信號的激發(fā)源。為了獲得較高的信號強度和圖像分辨率,掃描電子束應(yīng)具有較高的亮度和盡可能小的束斑直徑。電子槍利用...
10-11
低溫環(huán)境XRD已成為了解溫度、氣氛或壓力對材料影響*的技術(shù)。除了與研究相關(guān)外,這些知識對于優(yōu)化技術(shù)流程和進行工業(yè)質(zhì)量控制也至關(guān)重要。通過實時監(jiān)測樣品在不同溫度條件下的結(jié)晶情況,分析其衍射圖譜可以得到不同溫度條件下的半峰寬、強度、晶面間距以及晶粒尺寸等信息,從而研究樣品的相變、結(jié)晶度變化規(guī)律。低溫環(huán)境XRD采用環(huán)境降溫的方式,溫度探頭測試的為內(nèi)層密封罩內(nèi)低溫惰性氣體的溫度,當腔體內(nèi)溫度達到平衡后,樣品表面的溫度近似與腔體內(nèi)溫度相等,故此時監(jiān)測的溫度為樣品表面溫度,測試的圖譜為該...
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